ISO14644-14自動化設備動態微粒子評估無塵室等級適用性
動態仿真試驗量測微粒子污染逸散試驗
在半導體制造過程中,設備零組件的潔凈度直接影響晶片良率與制程穩定性。雖然清洗作業多屬于幕后流程,卻是確保先進制程順利運作的關鍵環節。隨著微米級、奈米級制程的普及,設備零組件清洗的重要性更是大幅提升。

半導體零組件清洗的核心目標
半導體設備零組件清洗的主要目的,是去除附著在組件表面的各種微污染物,包括:
清洗工藝的關鍵特性與要求
常見應用場
半導體設備中的許多關鍵組件,都需要定期保養及維修后清洗,例如:
清洗頻率會依據組件材質、制程條件與污染累積情況而定。
目前行業內有眾多專業清洗公司提供相關服務,而清洗效果的優劣取決于多重因素:除了科學規范的清洗工藝流程外,清洗公司的清洗環境、清洗液的純度以及清洗所用超純水的品質,均為核心影響要素,直接決定最終潔凈度是否符合生產要求。

SGS不僅可針對清洗后的零組件進行表面潔凈度確認,例如顆粒、離子與有機物等關鍵指標的檢測,也能夠對清洗流程中的各項重要環節提供全面把關服務,包括清洗環境的審核、清洗化學液的純度檢測,以及清洗過程中所使用的超純水品質確認。透過這些貫穿前、中、后段的質量控管措施,協助企業確保清洗流程維持高標準運行,有效降低潛在的制程風險,提升整體生產可靠性。
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