SEMI F21潔凈室空降分子污染(AMC)分析
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近日,第十九屆全國(guó)離子色譜學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)在安徽合肥成功舉辦。本次會(huì)議由中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)分析儀器分會(huì)離子色譜專家組主辦,匯聚了國(guó)內(nèi)外離子色譜領(lǐng)域的專家學(xué)者、技術(shù)負(fù)責(zé)人及企業(yè)代表,共同探討離子色譜技術(shù)的最新研究進(jìn)展與應(yīng)用實(shí)踐。SGS微電子服務(wù)技術(shù)經(jīng)理River Lee受邀遠(yuǎn)程出席會(huì)議,并發(fā)表題為《離子色譜在半導(dǎo)體及電子行業(yè)的應(yīng)用》的專題報(bào)告。

SGS微電子服務(wù)技術(shù)經(jīng)理River Lee發(fā)表主題報(bào)告
此次報(bào)告聚焦半導(dǎo)體行業(yè)核心痛點(diǎn)——離子污染防控。River在報(bào)告中指出,隨著半導(dǎo)體及電子行業(yè)對(duì)產(chǎn)品潔凈度與可靠性的要求日益提升,離子污染已成為影響產(chǎn)品質(zhì)量與良率的關(guān)鍵因素之一。他從實(shí)際案例出發(fā),系統(tǒng)介紹了離子色譜技術(shù)在半導(dǎo)體廠房環(huán)境、超純水、制程化學(xué)品、封裝材料、PCB/PCBA等關(guān)鍵環(huán)節(jié)中的離子污染檢測(cè)與監(jiān)控方法,并結(jié)合SEMI、IPC、JEDEC等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),詳細(xì)闡述了各類樣品的前處理技術(shù)與離子色譜分析流程。

SGS報(bào)告現(xiàn)場(chǎng)
River強(qiáng)調(diào),離子色譜作為一種高靈敏度、高選擇性的分析手段,在痕量離子檢測(cè)方面具有不可替代的優(yōu)勢(shì),尤其在AMC(空降分子污染)、UPW(超純水)品質(zhì)控制、封裝材料離子釋放評(píng)估等方面,已成為行業(yè)標(biāo)配技術(shù)。他還分享了SGS在半導(dǎo)體及電子行業(yè)多年積累的檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)與解決方案,展示了離子色譜在保障產(chǎn)品可靠性、提升制程穩(wěn)定性方面的重要作用。
SGS憑借專業(yè)的半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)完整解決方案,可為海內(nèi)外客戶提供從原料入廠、生產(chǎn)過(guò)程到成品出貨的全鏈條離子污染檢測(cè)服務(wù),涵蓋陰離子、陽(yáng)離子及弱有機(jī)酸等多類污染物分析,助力企業(yè)規(guī)避產(chǎn)品風(fēng)險(xiǎn)、符合行業(yè)合規(guī)要求。
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