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SEMI F21潔凈室空降分子污染（AMC）分析
確保您的潔凈室制程車間沒有污染
SGS受邀出席第十九屆全國離子色譜學術報告會并發表專題報告
原創
2025-11-11 17:05:00
展會及研討會
作者： SGS_SEMI
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近日，第十九屆全國離子色譜學術報告會在安徽合肥成功舉辦。本次會議由中國儀器儀表學會分析儀器分會離子色譜專家組主辦，匯聚了國內外離子色譜領域的專家學者、技術負責人及企業代表，共同探討離子色譜技術的最新研究進展與應用實踐。SGS微電子服務技術經理River Lee受邀遠程出席會議，并發表題為《離子色譜在半導體及電子行業的應用》的專題報告。
SGS微電子服務技術經理River Lee發表主題報告
此次報告聚焦半導體行業核心痛點——離子污染防控。River在報告中指出，隨著半導體及電子行業對產品潔凈度與可靠性的要求日益提升，離子污染已成為影響產品質量與良率的關鍵因素之一。他從實際案例出發，系統介紹了離子色譜技術在半導體廠房環境、超純水、制程化學品、封裝材料、PCB/PCBA等關鍵環節中的離子污染檢測與監控方法，并結合SEMI、IPC、JEDEC等行業標準，詳細闡述了各類樣品的前處理技術與離子色譜分析流程。
SGS報告現場
River強調，離子色譜作為一種高靈敏度、高選擇性的分析手段，在痕量離子檢測方面具有不可替代的優勢，尤其在AMC（空降分子污染）、UPW（超純水）品質控制、封裝材料離子釋放評估等方面，已成為行業標配技術。他還分享了SGS在半導體及電子行業多年積累的檢測經驗與解決方案，展示了離子色譜在保障產品可靠性、提升制程穩定性方面的重要作用。
SGS憑借專業的半導體產業完整解決方案，可為海內外客戶提供從原料入廠、生產過程到成品出貨的全鏈條離子污染檢測服務，涵蓋陰離子、陽離子及弱有機酸等多類污染物分析，助力企業規避產品風險、符合行業合規要求。
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