半導(dǎo)體一站式解決方案

SGS作為國(guó)際公認(rèn)的測(cè)試、檢驗(yàn)和認(rèn)證機(jī)構(gòu)，在全球擁有配置齊全的物理與化學(xué)分析實(shí)驗(yàn)室，能夠?yàn)檎麄€(gè)IC制造產(chǎn)業(yè)鏈的質(zhì)量控制提供可靠與穩(wěn)健的測(cè)試分析解決方案。SGS微電子實(shí)驗(yàn)室及半導(dǎo)體超痕量分析實(shí)驗(yàn)室致力為您提供全面、專業(yè)的半導(dǎo)體物理測(cè)試和半導(dǎo)體化學(xué)測(cè)試。

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	半導(dǎo)體一站式解決方案

	■ 微電子實(shí)驗(yàn)室 & 半導(dǎo)體超痕量分析實(shí)驗(yàn)室
	■ 半導(dǎo)體物理測(cè)試 \| 半導(dǎo)體化學(xué)測(cè)試

服務(wù)背景

當(dāng)今的世界技術(shù)高度依賴集成電路（IC），其廣泛應(yīng)用在智能家居、機(jī)器人、移動(dòng)電話、汽車及航空航天的各種設(shè)備中。其中，整個(gè)IC的產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)怯缮嫌蔚男酒O(shè)計(jì)、晶圓制造、晶圓出貨測(cè)試、封裝與成品測(cè)試所構(gòu)成，從晶圓裸片到芯片產(chǎn)品，中間需要經(jīng)過(guò)數(shù)百個(gè)高度復(fù)雜的制造步驟，因此工藝中的微小差異都會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品良率降低甚至元件失效。

半導(dǎo)體器件的良率基本取決于以下幾個(gè)層面：由于材料和環(huán)境影響造成的缺陷、人為失誤和設(shè)備故障、工藝差異與設(shè)計(jì)等。其中，工藝差異與設(shè)計(jì)，已經(jīng)面臨著巨額成本、低效開發(fā)的局面，這是每一個(gè)廠商都可能遇到的困難與挑戰(zhàn)。另一方面，對(duì)于降低產(chǎn)品缺陷與失效去提升整體產(chǎn)線的良率，生產(chǎn)商逐漸重視如何有效地控制生產(chǎn)物料與環(huán)境中的痕量污染物，例如金屬離子與顆粒物的污染，這對(duì)于晶圓良率的提升起著至關(guān)重要的作用。

服務(wù)內(nèi)容

SGS作為國(guó)際公認(rèn)的測(cè)試、檢驗(yàn)和認(rèn)證機(jī)構(gòu)，在全球擁有配置齊全的物理與化學(xué)分析實(shí)驗(yàn)室，能夠?yàn)檎麄€(gè)IC制造產(chǎn)業(yè)鏈的質(zhì)量控制提供可靠與穩(wěn)健的測(cè)試分析解決方案。

■ 微電子實(shí)驗(yàn)室可提供檢驗(yàn)芯片可靠度、器件失效分析、供應(yīng)鏈DPA到汽車半導(dǎo)體AEC-Q等解決方案，助力客戶全面提升產(chǎn)品的質(zhì)量。

■ 半導(dǎo)體超痕量分析實(shí)驗(yàn)室能提供生產(chǎn)過(guò)程中使用的超純水、化學(xué)品來(lái)料檢驗(yàn)到無(wú)塵室環(huán)境分析服務(wù)。

半導(dǎo)體物理&化學(xué)測(cè)試方案

SGS微電子實(shí)驗(yàn)室及半導(dǎo)體超痕量分析實(shí)驗(yàn)室致力為您提供全面、專業(yè)的半導(dǎo)體物理測(cè)試和半導(dǎo)體化學(xué)測(cè)試。

一、半導(dǎo)體物理測(cè)試方案

1. 半導(dǎo)體供應(yīng)鏈質(zhì)量控制DPA

外觀檢查（光學(xué)顯微鏡）	X-ray 檢查	SAT 檢查
SEM-EDS 電子顯微鏡	IR Reflow 回流焊	Pre-Condition Test/ MSL
De-cap開封	Cross-section 截面研磨	P-lapping 分析
Dual beam FIB	WBS 綁線拉剪切力	WBP 綁線拉力

2. 汽車半導(dǎo)體認(rèn)證測(cè)試AEC-Q

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：AEC-Q100（集成芯片）、AEC-Q103（MEMS）、AEC-Q101（分立半導(dǎo)體）、AEC-Q104（多晶圓及模組體）、AQG-324（功率器件）、AEC-Q102（分立光電半導(dǎo)體）、AEC-Q200（被動(dòng)元器件）

封裝IC：加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試、加速壽命模擬試驗(yàn)、封裝凹陷測(cè)試

3. 半導(dǎo)體產(chǎn)品質(zhì)量管控

加速環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)	加速壽命模擬試驗(yàn)	封裝完整性測(cè)試
電性驗(yàn)證測(cè)試	空腔封裝完整性測(cè)試	無(wú)損分析
破壞性分析	故障定位分析	ESD-HBM/MM/CDM
Latch-up

二、半導(dǎo)體化學(xué)測(cè)試方案

1. 制程環(huán)境控制

潔凈室設(shè)計(jì) / 建置 / 訓(xùn)練與顧問服務(wù)	潔凈室效能測(cè)試（ISO 14644）
空降分子污染（AMC）控制（SEMI F21）	超純水（UPW）檢測(cè)
壓縮干燥空氣（CDA）檢測(cè)（ISO 8573）

2. 進(jìn)料檢驗(yàn)

電子級(jí)化學(xué)品檢測(cè)	一般氣體及電子級(jí)氣體
無(wú)塵用品檢測(cè)	晶圓盒 / 包裝材料潔凈度分析
硅片檢測(cè) / 晶圓表面污染分析	材質(zhì)溶出試驗(yàn)（SEMI F57）

3. 制程設(shè)備

設(shè)備動(dòng)態(tài)顆粒度測(cè)試（ISO 14644-14）	機(jī)臺(tái)與部件潔凈度 / 清洗確認(rèn)
設(shè)備環(huán)境衛(wèi)生安全基準(zhǔn)（SEMI S2）

我們的優(yōu)勢(shì)

	專家團(tuán)隊(duì)經(jīng)驗(yàn)豐富，業(yè)務(wù)執(zhí)行快捷高效
	SGS在半導(dǎo)體領(lǐng)域具備完整的產(chǎn)業(yè)鏈服務(wù)，在半導(dǎo)體產(chǎn)品方面擁有多年的檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)，具備全球的服務(wù)能力及經(jīng)驗(yàn)豐富的專家服務(wù)團(tuán)隊(duì)，助力企業(yè)降低風(fēng)險(xiǎn)，簡(jiǎn)化流程，提高營(yíng)運(yùn)可持續(xù)性。
	為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈制造環(huán)節(jié)提供品質(zhì)管控服務(wù)
	SGS致力為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈制造環(huán)節(jié)提供專業(yè)的半導(dǎo)體物理測(cè)試及半導(dǎo)體化學(xué)測(cè)試品質(zhì)管控服務(wù)，幫助芯片工廠加強(qiáng)產(chǎn)業(yè)鏈原物料的品質(zhì)把控，提升晶圓生產(chǎn)良率，減少缺陷，為中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展提供服務(wù)支持。

服務(wù)流程


1. 咨詢客服	2. 申請(qǐng)測(cè)試	3. 支付費(fèi)用	4. 寄送樣品	5. 獲取報(bào)告
在線咨詢溝通半導(dǎo)體測(cè)試業(yè)務(wù)需求	確定服務(wù)項(xiàng)目填寫半導(dǎo)體測(cè)試申請(qǐng)單	支付測(cè)試費(fèi)用并提交開票資料	客戶寄樣/ SGS現(xiàn)場(chǎng)采樣進(jìn)行樣品分析	半導(dǎo)體測(cè)試完成獲取測(cè)試報(bào)告

* 備注：樣品分析分為三種，包括客戶寄樣、SGS現(xiàn)場(chǎng)采樣直接測(cè)量及SGS現(xiàn)場(chǎng)采樣送回實(shí)驗(yàn)室分析。