半導體一站式解決方案
半導體物理&化學測試
問題聚焦
高密度互聯(HDI)板的激光盲孔技術是5G、AI芯片的關鍵工藝,但孔底開路失效卻讓無數工程師頭疼!SGS微電子實驗室憑借在失效分析領域的豐富經驗,總結了一些失效分析經典案例,旨在為工程師提供更優質、更全面的建議,助力解決這些棘手問題。那么,孔底開路失效究竟是由材料問題、工藝缺陷、過程失控還是設計漏洞引起的呢?
失效根源深度拆解
1. 材料“隱形殺手”

激光盲孔底部裂紋

采用拔孔技術,盲孔底部有碳化物
2. 工藝參數“致命陷阱”

激光參數異常導致孔型異常
3. 設計反常識誤區
4. 過程控制缺失

電鍍氣泡導致鍍錫不良
實戰解決方案
1. 材料選型鐵律
選擇Tg>170℃、CTE<3.5ppm/℃的高頻板材,搭配低粗,糙度RTF/HVLP銅箔(Rz≤5μm),減少高頻損耗
2. 激光工藝黃金參數
紫外激光(波長355nm)+能量密度3.5-4.2J/cm² +多脈沖,漸進燒蝕 ,塑造良好孔型
3. DFM設計規范
盲孔直徑≤150μm,深徑比≤0.8,相鄰孔中心距≥3倍孔徑,盲孔堆疊≤3階,增強可制造性
4. 孔金屬化監控
盲孔底銅厚度>6μm,定期檢測電鍍設備及電鍍藥水穩定,保證制程穩定
5. 可靠性測試
采用熱循環測試、熱沖擊測試、互連應力測試、插入損耗測試等驗證盲孔開路及材料組合的潛在風險

熱沖擊測試電阻變化率
失效分析黑科技

3D X-Ray掃描成像示意圖

掃描電鏡工作原理圖
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