ISO26262適用于道路車輛上特定的由電子、電氣和軟件組成的安全相關系統在安全生命周期內的所有活動。
目前,在司機輔助設備領域、車輛動力控制領域、主動和被動安全系統的設計研發領域,都需要遵循ISO26262。如:汽車防抱死制動系統(ABS);車身穩定控制系統;防撞系統;車道偏離報警系統;自適應助力轉向;主動停車輔助系統;自適應懸架控制;安全氣囊;司機瞌睡警示系統;自動巡航系統;胎壓監控系統等。
ISO26262第二版新亮點
ISO26262第二版在2018接近尾聲之時,終于在大家的顧盼中如期發布,是不是有點小激動!為了幫助大家快速了解和熟悉新版本,本文著重解讀New Part11_Application of ISO26262 to semiconductors,新增半導體內容。
莫慌,標準Part 11對如何計算半導體失效率計算、失效分析以及安全機制都做了詳細的解釋,比起之第一版的內容結構,新版標準更具實用性。
重點章節
<Clause 4: Semiconductor component and its partitioning> 半導體元件及其劃分;
安全設計中IP的使用情形:

標準明確指出,對半導體器件基礎失效率的計算公式和參數值,采用行業標準IEC TR 62380,計算失效率的公式結合SN 29500遵循查表方法,并給出了參考條件。
計算失效率公式:
考慮了封裝和焊點的失效率例子:
附錄A
附錄A中舉例如何評估診斷覆蓋率< Examples on digital failure modes for evaluating the diagnostic Coverage >;
附錄B
附錄B中舉例相依失效分析< Examples on the dependent failure analysis >;考慮了耦合因素的關聯失效例子,非常實用。
附錄C
附錄C中舉例數字元件定量分析<Examples of quantitative analysis for digital component>
附錄D
附錄D中列舉模擬元件定量分析<Examples of quantitative analysis for analogue component>
附錄E
附錄E中列舉PLD元件定量分析<Examples of quantitative analysis for PLD component>
重點章節
<Clause 5: Specific semiconductor technologies and use cases> 特定的半導體技術和用例;
標準第5章節,針對下列部件的失效模式,給出了建議和實例,解決了大家在項目中遇到的常見困惑。
Digital components and memories (see 5.1)
Analogue/mixed signal components (see 5.2)
Programmable logic devices(PLD) (see 5.3)
Multi-core components (see 5.4)
Sensors and transducers (see 5.5)
對安全機制的設計,標準Table36~Table39列舉了例子供參考;
關于我們
SGS是國際公認的檢驗、鑒定、測試和認證機構。SGS-TUV Saar(全球功能安全技術中心)是德國DaKKS授權的汽車功能安全培訓、咨詢和認證機構,技術中心負責人Martin Schimt是ISO26262的發起者和起草人,目前SGS的汽車功能安全專家超過60人,為全球客戶提供功能安全服務。
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