車規元器件可靠性驗證(AEC)
擁有完善的車規器件可靠性驗證能力
隨著汽車照明技術的快速發展,新型光電子半導體器件不斷涌現,為汽車行業帶來革新。為保證駕駛安全,AEC Q102標準作為國際公認的規范,為車載光電子半導體器件的質量和可靠性設立了嚴格的要求,對推動整個汽車行業的發展具有重要意義。

然而,隨著照明技術的飛速進步,新型光電子半導體和相關技術往往與照明應用并行開發,這使得有時難以遵循AEC Q102 表2描述的常規魯棒性 (Robustness Validation) 驗證方法。
AEC Q102認證等級要求
對于光電子半導體而言,其使用壽命很大程度上取決于具體的應用類型。因此,室內照明通常與外部尾燈和前燈照明應用有不同的要求。此外,適用于卡車的應用可能與大多數私人汽車的要求也有所不同。針對這些問題,AEC Q102標準對光電子半導體的認證等級做出了劃分,如下表1和表2:


其中,魯棒性等級-0 (RV-level 0) 就是目前常規的AEC Q102測試認證。需要注意的是,在達到最終的魯棒性等級 (RV-level) 所要求的測試時長后,需要進行破壞性物理分析 (DPA),超過1000小時/循環 (RV-level 1 & 2) 以后的樣品數量可以減少到30 (3批,每批10個部件)。同時,更高等級魯棒性測試的失效判定同樣遵循AEC Q102的判定標準,并且要求0失效。
附加測試建議
RV-level 1 & 2是僅用于魯棒性評估的附加測試。通過AEC Q102表2中定義的測試(RV-level 0)已經可以認為光電子半導體器件符合AEC Q102標準。
特別是對于RV-level 1 & 2,強烈建議通過過應力測試來確定失效模式和加速參數。以下測試基于SAE/USCAR-33推薦:
樣本大小: 78個器件(分為3批,每批26個器件)
應力持續時間: 直到50%的樣本失效,最長1500小時/循環
按照AEC-Q102進行預處理,并執行應力測試前后的光電參數測試。
對于失效判定,應遵循AEC-Q102判定標準。
對于每個測試,應對2個 (失效的) 器件進行破壞性物理分析 (DPA)。
目前,越來越多的廠商已經不再僅僅局限于常規的AEC Q102測試認證,而是對光電子器件的魯棒性等級提出了更高的要求,以適應市場和消費者的需求。SGS擁有全套AEC Q102的測試認證能力,并提供更高RV-level的測試服務,致力于為客戶的光電子器件提供全方位的可靠性保障,助力產品在全球市場上脫穎而出。
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